![]() |
Новости науки |
15.06.02. Сегнетоэлектрическая память: состояние и перспективы |
Несмотря на конкуренцию со стороны разрабатываемых
многими фирмами магнитных энергонезависимых запоминающих устройств,
сегнетоэлектрические устройства пока сохраняют свое лидирующее положение.
Смарт-карты, логические приборы с изменяемой конфигурацией, перепрограммируемые
микроконтроллеры - это всего лишь немногие примеры использования
сегнетоэлектрической памяти.
Сегнетоэлектрик - это диэлектрик или полупроводник, обладающий в
определенном диапазоне температур спонтанной поляризацией. При понижении
температуры в таком веществе происходит фазовый переход, связанный с искажением
кристаллической структуры, что и приводит к появлению спонтанной поляризации.
Спонтанная поляризация сегнетоэлектрика легко изменяется под влиянием внешних
воздействий, в частности, при приложении электрического поля. Именно это
свойство сегнетоэлектриков используется для создания запоминающих устройств с
произвольной выборкой (ЗУПВ). В литературе они получили название FRAM
(Ferroelectric Random Access Memory). В запоминающем устройстве FRAM-типа
сегнетоэлектрик (как правило, перовскит PbZn1-
xTixO3) создает конденсаторную структуру, в которой
формируются два состояния спонтанной поляризации. При приложении напряжения к
электродам конденсатора сегнетоэлектрик оказывается одном из этих состояний,
оно сохраняется и после снятия электрического поля. Приложение электрического
поля той же величины, но противоположного направления, заставляет
сегнетоэлектрик переключаться во второе стабильное состояние поляризации.
Считывание состояния памяти (0 или 1) осуществляется с помощью дополнительного
зарядового импульса, подаваемого на опорный конденсатор.
FRAM использует два типа ячеек памяти - 1T1C и 2T2C - отличающихся друг от
друга схемами опорного сигнала, участвующего в считывании состояния. Ячейка
2T2C, содержащая два конденсатора и два транзистора, занимает довольно большую
площадь, такая ячейка используется для массового производства FRAM емкостью до
256 К. Время считывания/записи для такой ячейки составляет 70 - 150 нс, срок
службы - 1010 циклов считывания/записи, а время хранения информации
- более 10 лет. Другая используемая ячейка - 1Т1С - состоит из одного
транзистора и одного конденсатора, поэтому ее размер значительно меньше; FRAM
емкостью 1 и 2 М на основе такой ячейки находятся в стадии финишной разработки.
Массовое производство FRAM началось в 1992 году, и пока на рынке
энергонезависимые FRAM запоминающие устройства не имеют себе равных по
комбинации параметров (быстрое считывание и быстрая запись, малое рабочее
напряжение, износостойкость). Но необходим дальнейший прогресс в увеличении
емкости FRAM ЗУ и в уменьшении рабочего напряжения, чтобы они могли
конкурировать с альтернативными энергонезависимыми ЗУ, такими, как промышленные
программируемые ПЗУ с электрическим стиранием и высокой емкостью. Заявленная
недавно новая архитектура FRAM ячейки, СОР (capacitor-on-plug), в которой
сегнетоэлектрический конденсатор размещен на верху контактного штырька,
соединяющего конденсатор и транзистор, позволяет уменьшить размер ячейки в
несколько раз и достичь емкости, соизмеримой с емкостью полупроводниковых
динамических ЗУПВ и флэш-ЗУ. Используя 0.25 мкм и 0.18 мкм КМОП-технологии,
можно масштабировать площадь конденсаторов в FRAM-ячейках до размеров 0.20
мкм2 и 0.13 мкм2, и это еще не предел.
Источник информации - бюллетень ПерсТ, выпуск 11 за 2002 г.
|
|